參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

曲率半徑偏差：允許公差±0.05mm~±0.5mm

表面粗糙度：Ra≤0.8μm~Ra≤3.2μm

圓度誤差：≤IT7級(jí)公差等級(jí)

過(guò)渡區(qū)平滑度：R角連接處輪廓波動(dòng)≤5μm

材料厚度變化率：壁厚減薄量≤原始尺寸的8%

檢測(cè)范圍

金屬管材（不銹鋼/鈦合金/鋁合金）

塑料注塑件（PC/ABS/POM）

陶瓷絕緣件（氧化鋁/氮化硅）

復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件（CFRP/GFRP）

橡膠密封件（EPDM/FKM）

檢測(cè)方法

ASTM E177-14：幾何公差測(cè)量不確定度評(píng)定方法

ISO 12180-2:2011：圓柱度評(píng)定規(guī)范

GB/T 1958-2017：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定

ISO 4287:1997：表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及參數(shù)

GB/T 11337-2004：平面度誤差檢測(cè)方法

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（Hexagon Global S）：空間尺寸測(cè)量精度±1.5μm+L/250μm

輪廓儀（Taylor Hobson PGI 3）：表面形貌測(cè)量分辨率0.8nm

圓度儀（Mitutoyo RA-2200）：徑向測(cè)量精度0.01μm

激光掃描儀（FARO Edge ScanArm）：三維點(diǎn)云采集速率195,000點(diǎn)/秒

超聲波測(cè)厚儀（Olympus 38DL Plus）：厚度測(cè)量范圍0.15~500mm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)